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LED高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱如何？斯派克給你答案！
發(fā)布時(shí)間：
2023-03-06
來(lái)源：
廣州斯派克環(huán)境儀器有限公司
LED高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，又稱(chēng)LED高低溫試驗(yàn)機(jī)、LED高低溫試驗(yàn)箱、LED高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、LED高低溫箱等，適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱氣候環(huán)境溫度條件下（高低溫操作＆儲(chǔ)存、結(jié)露試驗(yàn)等），檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。符合國(guó)際性規(guī)范之要求以達(dá)到國(guó)際間量測(cè)程序一致性（含測(cè)試步驟、條件、方法）避免認(rèn)知不同，并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。
產(chǎn)品型號(hào)：ST系列高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱
標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積：225-1000升
溫度范圍：-70℃～＋150℃（試驗(yàn)箱可定制）；
溫度波動(dòng)度：±0.5℃；溫度偏差：±2.0℃
制冷系統(tǒng)：可靠節(jié)能環(huán)保制冷劑，冷凍技術(shù)源于日本、冷凍工藝設(shè)計(jì)可靠（回油彎制作）
LED高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱-試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
GB／T 10592—2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB／T 2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068—2—1：2007，IDT）；
GB／T 2423.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫（IEC 60068—2—2：2007，IDT）；
GB／T 2423.22—2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化（IEC 60068—2—14：2009，IDT）；
GJB 150.3—86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)；
GJB／T 150.4—86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分低溫試驗(yàn)；
LED高低溫試驗(yàn)箱又稱(chēng)為高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)技術(shù)、先進(jìn)的PID控制方法對(duì)環(huán)境溫度、濕度進(jìn)行測(cè)量和控制，高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱用于自動(dòng)化零部件通訊組件、電子電器零組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。更多環(huán)境試驗(yàn)箱小知識(shí)可咨詢(xún)斯派克相關(guān)人員。
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