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高低溫試驗(yàn)箱真實(shí)場(chǎng)景試驗(yàn)
發(fā)布時(shí)間：
2022-06-18
來源：
斯派克
高低溫試驗(yàn)箱是在溫度的基礎(chǔ)上加濕熱系統(tǒng)，使溫度也能進(jìn)行濕度試驗(yàn)，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬更惡劣的自然氣候，使樣品的可靠性更高。高低溫試驗(yàn)箱應(yīng)注意一些問題，并遵守一定的操作規(guī)范。那么，高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試步驟是什么呢？以下是斯派克環(huán)境儀器設(shè)備的分享：
高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)步驟：
1.預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初步檢測(cè)：將測(cè)試樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗(yàn)箱。
3、樣品斷電時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度應(yīng)降至-50℃，保持4小時(shí)；不要在樣品通電狀態(tài)下降溫，這一步非常重要，因?yàn)樾酒旧碓谕姞顟B(tài)下會(huì)發(fā)熱，降溫會(huì)很慢，必須先凍透，再通電試驗(yàn)。
4、在低溫階段結(jié)束后5min將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換為已調(diào)整的樣品90℃保持在高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)4h或者直到測(cè)試樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，與低溫測(cè)試相反，加熱過程不斷電，芯片內(nèi)部溫度保持高溫，4小時(shí)后執(zhí)行A、B測(cè)試步驟。
5、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察數(shù)據(jù)存在數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。
6、高溫和低溫試驗(yàn)分別重復(fù)10次。
7、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能略有誤差。
8、恢復(fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
9、后檢測(cè)：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度等方法評(píng)估檢測(cè)結(jié)果。
如果測(cè)試過程中沒有正常工作，則視為測(cè)試失敗。
以上是關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試步驟，斯派克在此把適用于高低溫試驗(yàn)箱檢測(cè)的產(chǎn)品行業(yè)一一列出，高低溫試驗(yàn)箱適用于各類電子、電工、電器、塑膠、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗(yàn)、使材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn)，檢測(cè)產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性；或者在高溫，低溫，濕熱環(huán)境下，產(chǎn)品使用的安全性，持久性，精確性。同時(shí)也能檢測(cè)一些材料和成品的老化速度。高低溫試驗(yàn)箱還可以加濕熱系統(tǒng)，是一項(xiàng)多功能的試驗(yàn)設(shè)備，在滿足高低溫濕熱試驗(yàn)箱的功能下，客戶可以根據(jù)自己的不同要求，進(jìn)行各種溫濕度濕熱試驗(yàn)。
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